一种芯片测试数据分析方法

本发明提供一种芯片测试数据分析方法。所述芯片测试数据分析方法包括以下步骤：第一步：先采用数据采集模块将测试的数据进行采集，之后通过单表数据处理模块和多表数据处理模块将数据分为单表数据和多表数据，这过程中通过判断模块对单表数据处理模块处理的数据进行判断；第二步：如果数据合格形成数据表格通过单表数据展示模块进行展示，如果不合格通过失效数据处理模块进行处理。本发明提供的芯片测试数据分析方法，通过该方法可以快速自动整理、分析不同测试系统的测试数据。方便快捷，省时省力地完成数据整理。通过数据整理分析可以发现不同批次芯片参数差异，反馈给设计端有效地分析失效模式，改善设计和提升制造良率。