用于芯片自动测试的可变增益大电流测试电路和电子设备

本公开实施例提供的用于芯片自动测试的可变增益大电流测试电路和电子设备，包括：传感器模块、基准电压校准模块、第一差分模块和输出电压确定模块；其中，传感器模块，被配置为根据采样电流，生成采样电压；基准电压校准模块，被配置为根据初始基准电压，生成目标基准电压，其中，初始基准电压与芯片的额定电流有关，目标基准电压与传感器模块的电流量程有关；第一差分模块，被配置为根据芯片的额定电流，确定导通状态，并根据目标基准电压和采样电压，确定导通增益；输出电压确定模块，被配置为根据传感器模块的灵敏度、传感器模块的采样电流和第一差分模块的导通增益，确定目标输出电压。实现对芯片过载电流、短路电流等大电流的直接测量。