功能安全测试电路、方法、神经网络处理器及存储介质

公开了一种功能安全测试电路、方法、神经网络处理器及存储介质，涉及功能安全技术领域，该功能安全测试电路包括：配置器，用于生成并输出用于对待测集成电路进行测试的配置信息；多个测试数据生成器，用于基于配置信息，生成并输出多个测试数据生成器中各测试数据生成器分别对应的第一测试数据；待测集成电路，用于对多个第一测试数据进行处理，得到并输出多个第二测试数据；第一比较器，用于比较多个第二测试数据的一致性，得到待测集成电路的第一测试结果。本公开的技术方案不仅能够覆盖整个待测集成电路，满足预期的功能安全标准要求，且无需对待测集成电路的传输数据增加奇偶校验位，能够节约面积开销并降低传输功耗。