摘要
本发明提供了一种芯片对数据库图像比对定位的方法及系统,属于半导体领域。该芯片对数据库图像比对定位的方法包括提供一GDS原始文件,所述GDS原始文件包括集成电路设计时的原始图形;获取原始图形的关键尺寸,筛选原始图形的关键尺寸分别为第一设定值和第二设定值的图形;对晶圆进行刻蚀,获取刻蚀之后的图形;对刻蚀之后的图形进行量测,获取第一图形和第二图形的关键尺寸的变化量,并基于变化量,获取原始图形的关键尺寸的补偿值。本发明通过内差的方式,获取GDS文件中的图形的关键尺寸补偿值,能够避免晶圆刻蚀后的图像,由于收缩或扩张的大小不同,造成检测机台定位失败。
技术关键词
芯片对数据库
补偿值
尺寸
集成电路设计
图像
逻辑运算模块
线性插值法
涂覆光刻胶
定义
检测机台
定位系统
晶圆
数值
半导体
系统为您推荐了相关专利信息
电压拟合曲线
监测数据处理方法
数值
噪声
监测数据处理系统
条码图像
任务分配模型
计算机可读指令
物流
模板
采摘菠萝
作业机器人
作业地图
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