导航芯片的插口测试方法、装置、设备及存储介质

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导航芯片的插口测试方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202411633677
申请日期:2024-11-15
公开号:CN119147877B
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种导航芯片的插口测试方法、装置、设备及存储介质,包括以下步骤:对目标导航芯片的插口内引脚进行多频段信号注入,得到初始响应信号;对所述初始响应信号进行频域分析,得到频域特性曲线;基于所述频域特性曲线对所述插口的电磁兼容性进行性能评估,得到EMC性能评分;判断所述EMC性能评分是否在预设的性能评分范围内,若不在,则通过预设EMC性能指标对插口的电磁兼容性进行多维度评判,得到多维度评判结果;基于所述多维度评判结果对所述插口进行故障因子识别,得到故障因子报告;基于所述故障因子报告制定所述目标导航芯片的插口修复方案,解决了工作环境复杂多变,导航芯片的接口易出现故障,影响整个系统的稳定运行的技术问题。
技术关键词
插口 故障特征 重构参数 Lyapunov指数 因子 统计特征参数 模糊综合评判方法 优化设计方案 测试方法 芯片 多频段 递归量化分析 非线性特征提取 信号 多尺度排列熵 关键特征点 时频分布图 电磁敏感度 多准则决策 曲线
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