对芯片进行功能覆盖率验证的方法、装置、设备及介质

本发明提供了一种对芯片进行功能覆盖率验证的方法、装置、设备及介质，通过利用含设定参数的脚本对待测芯片进行数据处理和提取，并生成相应的功能覆盖率文件；通过所述脚本将所述功能覆盖率文件集成到验证环境，以对所述待测芯片进行覆盖率验证。采用含设定参数的脚本提取待测芯片的寄存器信号，并生成相应的功能覆盖率文件，集成到验证环境中后，能够快速、准确的进行功能覆盖率的自动化收集和验证，相较于传动验证中需要基于验证人员的理解的验证方式，采用脚本能够实现对芯片进行功能覆盖率验证的标准化，而且能够确保通过寄存器功能覆盖率反映出真实的功能点验证完备度。