一种ODT参数寻优方法、装置、电子设备及存储介质

本公开了一种ODT参数寻优方法、装置、电子设备及存储介质，涉及电路仿真领域，包括：所述方法包括：从目标内存链路中确定出目标内存颗粒，并针对目标内存链路搭建有源链路仿真模型；基于有源链路仿真模型，分别对目标内存链路上的每一个内存颗粒进行权重仿真，确定出每一个内存颗粒对目标内存颗粒眼图的影响占比；根据影响占比，分别在不同阻值的ODT参数下依次对每一个内存颗粒进行寻优仿真，确定出每一个内存颗粒的最优ODT参数。本公开系统化的寻优过程不仅能提高每个颗粒的ODT设置精度，还能优化整个内存链路的性能，解决了确定最优参数组合的难题，有效提升DDR5内存的信号完整性和系统稳定性。