基于光学特征的天线净空检测系统及方法

本发明公开了一种基于光学特征的天线净空检测系统及方法，涉及天线加工技术领域的领域，其包括：光源组件，其用于产生原始光束；分光器，其用于分化光源组件产生的原始光束形成探测光；净空轮廓调标机构，其用作分光器的搭载平台且用于调节分光器射出的探测光的姿态和位置；光学采集模块，其用于采集和处理探测光对铜箔净空区的照射后的光学反馈信息；主控模块，其电连接于分光器、净空轮廓调标机构和光学采集模块且用于控制和分析。本申请具有减小天线铜箔净空不足对天线信号的干扰的效果。