基于显微图像处理的锻件过烧检测方法

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正文
推荐专利
基于显微图像处理的锻件过烧检测方法
申请号:CN202411643613
申请日期:2024-11-18
公开号:CN119151932B
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本发明涉及锻件过烧检测领域,尤其涉及基于显微图像处理的锻件过烧检测方法,包括:获取待检测锻件的显微图像,根据显微图像得到实际晶粒区域,将实际晶粒区域的边缘线作为晶界线;计算实际晶粒区域为过烧晶粒的可能性,可能性与实际晶粒区域的半径形状指数负相关;对实际晶粒区域进行边缘检测得到多个边缘线,判断相邻的边缘线是否同时为晶界线,若是,将两个晶界线进行拟合得到拟合线,将晶界线和拟合线围成的区域作为理想晶粒区域。计算待检测锻件的过烧程度,当过烧程度大于阈值时,待检测锻件存在过烧情况。本发明通过过烧程度检测锻件是否存在过烧的情况,从而提高了检测结果的准确性,提高了检测效率。
技术关键词
锻件 像素点 图像处理 边缘检测 表达式 计算方法 指数 端点 射线 种子 线条 聚类 基准 算法
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