一种运算放大器的电容性能可靠性分析方法及系统

本发明提供一种运算放大器的电容性能可靠性分析方法及系统，涉及电子元器件可靠性分析技术领域，该方法为对运算放大器的陶瓷电容进行加速退化试验，获取电容的电气参数和非电气参数的退化信息，在众多参数中选择具有明显退化趋势的N个参数作为关键退化参数，以此为基础开展电容的可靠性评估过程；通过对电容的电气参数和非电气参数的退化信息进行分析，得到电容在N个关键参数单性能下的可靠度值；根据不同单性能退化量可靠度函数，选取合适的Copula函数作为连接函数并以此计算多性能下可靠度函数值。本发明解决了运算放大器的电容性能难以准确分析的问题。