一种异形陶瓷基复合材料构件的均匀性表征方法及设备

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一种异形陶瓷基复合材料构件的均匀性表征方法及设备
申请号:CN202411646211
申请日期:2024-11-18
公开号:CN119831925B
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种异形陶瓷基复合材料构件的均匀性表征方法及设备,该方法包括:对CT断层图像序列进行图像前景分割,得到复合材料构件的前景轮廓图像序列;基于前景轮廓图像序列对CT断层图像序列进行孔隙缺陷分割,得到孔隙缺陷图像序列;基于孔隙缺陷图像序列进行三维空间分块,并获取分块后得到的各区块的平均灰度值;将平均灰度值替换到前景图像序列中对应区块进行三维重建,完成对复合材料构件均匀性的可视化表征。本发明解决了现有技术中的材料均匀性表征方法误差较大,无法精确的对异形构件均匀性分布差异进行精确的量化表征的问题。
技术关键词
基复合材料构件 CT断层图像 性表征方法 异形陶瓷 像素点 轮廓图像 序列 光线投射体绘制算法 分块 边缘轮廓 边缘检测 阈值分割法 数学形态学 高斯滤波器 异形构件 标记
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