对芯片的异常掉电测试方法及其系统、设备、介质

本申请公开了一种对芯片的异常掉电测试方法及其系统、设备、介质；涉及芯片测试技术领域。异常掉电测试系统包括：测试治具、稳压电源、定时通断继电器、步进继电器和上位机；方法包括：当测试治具的关机充电功能关闭，在测试控制模块响应于读写测试指令对待测芯片进行读写测试的过程中，上位机响应于随机的掉电控制指令，控制定时通断继电器和步进继电器的工作状态，持续地进行多次掉电控制，制造多次掉电故障；掉电控制指令为如下之一：定时掉电单一模式指令、步进掉电单一模式指令、组合掉电模式指令；测试控制模块自动将每次掉电故障发生后的读写测试结果返回至上位机以实现对待测芯片的异常掉电测试。能提高异常掉电测试的可靠性和精确度。