用于双比较器结构SAR ADC的失调失配校准方法及存储介质

本发明公开了一种用于双比较器结构SAR ADC的失调失配校准方法及存储介质，其包括：步骤S1：ADC开始校准；步骤S2：统计n次最后一次比较结果；步骤S3：分别计算比较器1和比较器2比较结果的数学期望P1（1）和P2（1）；步骤S4：计算插值是否在设定范围内；如果是，则校准完成；如果否，则计算误差函数；根据设置的步长调整比较器失调，回到步骤S2。该存储介质用来存储用来执行上述方法的计算机程序。本发明具有原理简单、操作简便、适用范围广、校准效果好和精度高等优点。