一种纯光CT核心芯片容错算法的评估试验系统

本发明公开了一种纯光CT核心芯片容错算法的评估试验系统，包括：SLD光源以及SLD光源控制单元，SLD光源控制单元设置在FPGA主控单元和SLD光源之间；可调衰减器，设置在第一耦合器与PINFET光电探测器的尾纤之间，其中第一耦合器与SLD光源连接；噪声模拟单元，设置在FPGA主控单元与A/D转换之间，模拟常见探测器噪声，其中A/D转换与PINFET光电探测器连接；阶梯波模拟单元，设置在FPGA主控单元与D/A转换之间；高低温模拟单元，通过第二耦合器与第一耦合器连接；对轴角度变化模拟单元，与高低温模拟单元连接，用于模拟因人工光纤熔接不良对轴角度变化对电流测量的影响。