基于X射线扫描的铝型材截面厚度一致性检测方法

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基于X射线扫描的铝型材截面厚度一致性检测方法
申请号:CN202411647712
申请日期:2024-11-18
公开号:CN119289908A
公开日期:2025-01-10
类型:发明专利
摘要
本发明涉及铝型材加工技术领域,具体涉及基于X射线扫描的铝型材截面厚度一致性检测方法,包括以下步骤:S1,铝型材预处理:对待检测的铝型材进行预处理;S2,X射线全截面扫描:获得初步的厚度分布图像数据;S3,多源数据融合:与材料成分数据、生产过程参数、环境条件数据进行整合,生成综合厚度测量模型;S4,厚度预测分析:预测不同区域的厚度分布;S5,厚度一致性评估:对铝型材的厚度一致性进行评估;S6,异常原因追溯分析:识别影响厚度一致性的潜在根源。本发明,提高了厚度检测的灵敏度和准确性,减少了误报和漏报的可能性,有助于确保产品厚度的均匀性和稳定性,提升产品的可靠性。
技术关键词
微观结构特征 铝型材 一致性检测 复合核函数 X射线设备 结构特征提取 数据融合算法 X射线断层扫描 偏差 工业自动化系统 图像 报告 K均值聚类算法 数据记录单元 成像技术 光谱分析技术 模式识别 数据挖掘技术
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沪ICP备2023015588号