一种老化测试方法、设备以及介质

本发明涉及一种老化测试方法、设备以及介质，涉及老化测试技术领域，该方法包括：基于分布式数据采集系统架构，在多个测试点同步采集待测产品的性能参数，通过时间戳对齐，将所有所述测试点采集的数据进行同步整合，得到整合数据；基于预设的数据分析模型，对连续采集的性能参数进行时序分析，利用回归分析方法拟合性能退化曲线，确定退化函数，根据所述退化函数预测所述待测产品的性能失效时间；基于所述性能失效时间以及多种环境因素的组合，确定多种加速老化试验方案，通过模拟器执行所有所述加速老化试验方案，得到多个寿命预测结果。取得了提升电子产品性能评估和寿命预测的准确性的效果。