基于低分辨率紫外吸收层析的高温高压温度场测量方法

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基于低分辨率紫外吸收层析的高温高压温度场测量方法
申请号:CN202411657742
申请日期:2024-11-19
公开号:CN119595116B
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于低分辨率紫外吸收层析的高温高压温度场测量方法,包括:根据待测温度场的温度,选择紫外波段NO或OH的电子跃迁作为吸收光谱测量对象,并且根据待测温度场的浓度和尺寸条件,选择测量对象的振动谱带,确定待测波长范围;选择宽谱光源和低分辨率光谱仪分别作为吸收光谱测量所需的光源和探测器;组建吸收层析的光路网络,每一条光路均使用所选择的宽谱光源及低分辨光谱仪,对全部光路进行测量对象的吸收光谱测量,由各光路采集的吸收光谱信号计算得到各空间位置的温度,完成温度场重建。本发明能够实现高温高压条件下的吸收光谱准确测温,并结合层析重建算法实现高温高压温度场的准确测量。
技术关键词
温度场测量方法 宽谱光源 光栅光谱仪 对象 傅里叶变换光谱仪 白光光源 重建算法 探测器 分辨率 氘灯 波长 氙灯 尺寸 电子 网络 测温 信号 激光
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