对导通电阻的温度依赖性的确定

本发明涉及对导通电阻的温度依赖性的确定，尤其涉及一种用于确定功率半导体模块（18）中的开关（20）的导通电阻的温度依赖性的设备（22），该设备包括：脉冲单元（26），其用于对开关加载电流脉冲；测量单元（28），其用于在对开关加载电流脉冲期间和/或之后在测量时间段内测量开关的电阻；以及评估单元（30），其用于确定开关的电阻‑温度曲线。本发明还涉及用于车辆（10）的牵引用变流器（12）、用于提供预测模型的训练设备（34）、用于确定开关（20）的导通电阻的温度依赖性的方法以及计算机程序产品。