结合应用场景的芯片测试分选方法及系统

本申请提供了一种结合应用场景的芯片测试分选方法及系统，涉及芯片测试分选技术领域，包括：执行模拟测试指标集的关联特征溯源，确定多个关联特征集；基于多个关联特征集对多个样本芯片信息集进行特征提取和特征聚类，构建多个特征矩阵库；根据实际测试指标集对目标芯片进行实际检测，通过多个特征矩阵库对目标芯片进行模拟检测，输出实际检测结果和模拟检测结果。通过本申请可以解决现有芯片测试分选方法，由于无法根据应用场景设置相匹配测试指标，同时在芯片测试过程中，由于测试条件的局限性，无法对某些指标进行直接测试，导致芯片测试结果的精准性和可靠性较差的技术问题，可以达到提高芯片测试结果全面性、准确性和可靠性的效果。