键合引线的可靠性评估方法

本申请涉及一种键合引线的可靠性评估方法，包括：针对基于预设贮存条件进行贮存的多种不同的键合引线，从多种不同的键合引线中选取预设数量的键合引线，作为样品键合引线，并获取每个样品键合引线的贮存结果数据；对每种键合引线的焊点处进行剖面切割后再进行剖面分析，获得每种键合引线的剖面分析数据；基于每个样品键合引线的贮存结果数据和每种键合引线的剖面分析数据，确定键合引线的可靠性评估结果。本申请可以对键合引线的可靠性进行评估，以保障集成电路芯片具有正常的信号传输性能和电气性能，提升集成电路芯片的生产效果。