自检测控制电路及其控制方法、芯片

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自检测控制电路及其控制方法、芯片
申请号:CN202411661860
申请日期:2024-11-20
公开号:CN119471317A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种自检测控制电路及其控制方法、芯片。该自检测控制电路包括:选择模块和控制模块。选择模块被配置为:接收至少两组自检测所需的配置信息和选择信号,根据选择信号选定一组配置信息作为自检测信息,并将自检测信息加载至控制模块。控制模块包括处理单元和分析单元。处理单元与选择模块连接。处理单元被配置为:根据自检测信息生成一一对应的自检测向量,并将自检测向量加载至被测电路。其中,被测电路响应于自检测向量生成一一对应的输出信号。分析单元与被测电路连接。分析单元被配置为:自动逐一对比输出信号与相对应的期望值,以确定被测电路的正确性。本申请可以提高被测电路的自检测效率。
技术关键词
检测控制电路 电子熔断器 状态机 控制模块 分析单元 处理单元 信号 标志 非工作 控制器 指令 芯片
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