一种避免在芯片设计中误判压差的检验方法

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正文
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一种避免在芯片设计中误判压差的检验方法
申请号:CN202411662527
申请日期:2024-11-20
公开号:CN119203918B
公开日期:2025-03-04
类型:发明专利
摘要
本发明的目的是提供一种避免在芯片设计中误判压差的检验方法,该方法包括:构建电压标识器件;采用所述电压标识器件在构建的电路上进行标注;根据构建的电路生成对应的版图;构建calibre LVS工具的比对规则;采用calibre LVS工具根据比对规则验证所述版图是否存在电压误标或漏标的情况。本发明通过calibre LVS工具智能检测是否存在电压误标和漏标的情况,使得检测的效率和准确率大大提高,避免了由于没有判断出压差过大的地方导致芯片击穿的事故发生。
技术关键词
版图 检验方法 电压 标识 计算机程序代码 芯片 电子设备 可读存储介质 检验系统 逻辑 电路单元 校验模块 处理器 指令 存储器 定义
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