一种测试方法、电路、电子设备及存储介质

本申请提供了一种测试方法、电路、电子设备及存储介质，所述方法作用于串行测试电路，所述串行测试电路包括串行通信接口、测试转换单元和测试单元，所述方法包括根据待测芯片的测试需求，为所述串行通信接口配置目标串行通信协议，所述串行通信接口基于所述目标串行通信协议使用第二数量的接口与各个待测芯片连接；其中，所述第二数量小于所述第一数量；使用所述测试转换单元将与所述目标串行通信协议对应的测试信号发送到待测端口；使用所述测试单元基于所述测试信号对各个所述待测端口进行测试，确定待测芯片的质量。本申请在对待测芯片进行测试的时候，减少了接口的使用数量，增多了待测芯片的数量，提高了测试效率。