集成MEMS芯片及其制造方法

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集成MEMS芯片及其制造方法
申请号:CN202411666082
申请日期:2024-11-20
公开号:CN119430072A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
一种集成MEMS芯片及其制造方法,其中,制造方法包括:形成第一基底,包括第一结构层、以及位于第一结构层表面的第一介电膜,第一结构层具有相互独立的第一开口和第二开口,第一介电膜与第一结构层的材料不同;在第一基底上形成MEMS结构层,MEMS结构层内具有朝向第一基底开口的辅助沟槽,辅助沟槽的槽长大于槽深;在MEMS结构层上键合第二基底;在键合第二基底后,自相对第一介电膜的一侧刻蚀第一基底,形成导电通孔,导电通孔和第一开口分别与微气通道连通;经导电通孔和微气通道向第一空腔抽气或进气;在导电通孔内形成第一电互连结构,第一电互连结构与辅助沟槽的槽底连接。该制造方法能够为同一MEMS芯片上的不同传感器分别设定各自的气压。
技术关键词
集成MEMS芯片 辅助沟槽 电互连结构 基底 传感器结构 介电膜 气压 通孔 空腔 介电层 通道 种子层 淀积工艺 导电层 弯折结构 管结构
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