一种基于电压毛刺的故障灵敏度计算方法

本申请适用于芯片测试技术领域，尤其涉及一种基于电压毛刺的故障灵敏度计算方法，该方法包括：通过获取安全芯片的参数扫描信息，并基于参数扫描信息确定安全芯片的多个电压毛刺参数组合，提高测试效率和覆盖率；依据安全芯片的每个电压毛刺参数组合，控制毛刺注入装置对安全芯片进行毛刺注入，得到每个电压毛刺参数组合对应的故障发生次数，确保测试结果的精确性和可重复性；基于每个电压毛刺参数组合对应的故障发生次数，确定每个电压毛刺参数组合对应的故障灵敏度；根据每个电压毛刺参数组合对应的故障灵敏度，确定安全芯片的测试结果，快速识别出芯片易受攻击的参数组合和条件，为芯片设计优化和防护改进提供明确指导和数据支持。