一种便携式多脚位集成电路OPEN、SHORT测试装置

本发明提供一种便携式多脚位集成电路OPEN、SHORT测试装置，包括：偏置模块、限流模块、判定模块和电路板；所述偏置模块、所述限流模块和所述判定模块均集成于所述电路板上；所述偏置模块包括第一电源输入端，所述第一电源输入端的输出端电性连接有稳压芯片。本发明提供的一种便携式多脚位集成电路OPEN、SHORT测试装置，通过偏置模块、限流模块、判定模块和电路板相互进行配合，在进行使用的时候，将待测芯片用专用手测座接在测试装置中间的野口座上，通过左右两侧的的跳线设定待测芯片的GND及待测PIN，操作简单，成本较低，方便使用者进行携带，并且可根据需求设定测试集成芯片脚位数量，且同时测试，从而增加了测试效率。