芯片内部寄生参数的测试方法与装置

本发明公开了一种芯片内部寄生参数的测试方法，并公开了用于实现该方法的装置，其中芯片内部寄生参数的测试方法包括获取待测引脚的高电平阈值电压；将待测引脚配置为定时器触发模式；将信号输出引脚置为高电平，使芯片内定时器的计数器开始计数，使寄生电容的电压值上升至高电平阈值电压，获取此时定时器的计数值；多次改变可调电阻的电阻值并获得多个定时器的计数值；根据上述参数获得第一等效寄生电容的电容值。从而借助芯片自身引脚实现对芯片内部寄生参数的测量，得到符合芯片实际工作场景的寄生参数，不依赖外接设备，减小测试成本。