封装件、集成电路及封装方法

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封装件、集成电路及封装方法
申请号:CN202411671615
申请日期:2024-11-21
公开号:CN119480857A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开的封装件、集成电路及封装方法,涉及半导体技术领域,通过对封装件内部结构进行改进,便于优化其散热性能。封装件,包括:重布线层;缓存晶粒,位于所述重布线层之上,并与所述重布线层互联;核心晶粒,设置于所述缓存晶粒的上方,且位于所述封装件的内部结构的顶层,并与所述缓存晶粒互联。通过将核心晶粒置于封装件内部堆叠结构形态的顶层,这样,中央处理器产生的大量热量可直接从其顶部向上散出,从而有利于改善散热性能。本发明适用于芯片结构设计和封装中。
技术关键词
重布线层 导电路径 封装件 封装方法 核心 内部堆叠结构 光刻掩膜 正面 集成电路 机械抛光 系统级芯片 基板 中央处理器 半导体 通孔 侧部 凸点
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