应用于后量子密码算法的故障注入检测电路及运算方法

本申请提供一种应用于后量子密码算法的故障注入检测电路和运算方法，应用于后量子密码算法的故障注入检测电路包括：输入单元，用于输入状态矩阵；多个运算单元，分别连接所述输入单元，每一所述运算单元用于对所述状态矩阵中预设比特数据进行计算，得到计算结果；输出单元，连接多个所述运算单元，用于将所述计算结果与预计算值进行比较，确定是否有故障注入；其中，所述状态矩阵与所述预计算值符合预设关系。本申请提供的应用于后量子密码算法的故障注入检测电路，拥有更长的关键路径，可以在关键信息泄露之前检测到时钟注入，解决了算法硬件实现中潜在的侧信道泄露问题，实现了对后量子密码芯片的安全防护。