一种集成电路标准样片及其测试方法

本申请属于微电子计量测试领域，具体公开了一种集成电路标准样片及其测试方法，标准样片包括：基板，以及贴装于所述基板顶面的系统级芯片SoC、模数转换器、数模转换器、基准源以及数据选择器；所述系统级芯片SoC，用于控制标准信号的输出、采集及反馈控制；所述模数转换器，用于实现标准信号的采集及闭环反馈；所述数模转换器，用于实现标准信号的输出及闭环反馈；所述基准源，用于提供模数转换器的基准电压和数模转换器的基准电压；所述数据选择器，用于实现数据测试系统的通道切换，以实现通过单个标准样片的多通道测试。通过本申请，可提高集成电路测试系统的测试工作效率。