一种用于集成电路芯片验证的通用验证系统

本发明属于数字芯片领域，涉及一种用于集成电路芯片验证的通用验证系统，其顶层代码目录包括bin目录、lib目录和pub目录，所述通用验证系统的每个验证平台的目录包括tb目录、env目录、testcases目录、etc目录、inst.fl目录；在仿真开始后，收集每个etc目录下的所有配置信息，然后根据用户指定要仿真的验证用例，选取相应的测试用例所继承的编译参数进行验证平台的编译；编译完成后，再添加用户指定的仿真参数进行仿真；仿真完成后，根据build中指定的检查规则对仿真的log文件进行检查，判定验证用例是否通过。本发明具有统一的验证环境、灵活的测试用例管理、实时的验证结果展示、学习成本低、资源利用高、跨模块协作、统一参数管理、通用性强等优点。