一种过程层设备调试方法、装置、电子设备及存储介质

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一种过程层设备调试方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411678508
申请日期:2024-11-22
公开号:CN119644828B
公开日期:2025-10-24
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种过程层设备调试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:在针对目标过程层设备的目标测试项目进行测试的过程中,采集目标过程层设备产生的反馈信号;对反馈信号进行信号片段切分,得到至少两个反馈信号片段,并确定至少两个反馈信号片段的全时域显著传递聚合表示向量;根据全时域显著传递聚合表示向量以及预先确定的调试结果确定模型,确定目标过程层设备的调试结果。本发明实施例的技术方案,可以减少人为因素对调试结果造成的影响,提高调试结果的准确性和可靠性,为电力系统的安全稳定运行提供技术支持。
技术关键词
设备调试方法 编码 序列 调试设备 时域特征 设备调试装置 时间同步设备 电子设备 特征提取模型 信号采集模块 可读存储介质 计算机 时序 处理器通信 通信设备 执行机构 动态 电力系统
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