一种光电探测器同轴度检测装置及方法

本发明涉及检测技术领域，且公开了一种光电探测器同轴度检测装置及方法，解决了两次检测的时间间隔较长的问题，其包括操作台，所述操作台的顶部固定连接有机架，机架的下方设有用于拍摄图像的CCD成像仪，机架安装有用于驱动CCD成像仪水平方向移动的调整件，机架固定安装有显示器，显示器用于显示CCD成像仪拍摄的图像；所述操作台的上方设有支撑架，所述操作台安装有用于驱动支撑架旋转的自转结构，支撑架固定安装有若干支撑箱，支撑箱为顶端开口的空腔结构，支撑箱内设有支撑盘；不需要等待CCD成像仪拍摄检测结束，减少了两次检测的时间间隔，提高了检测效率。