线速打流测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

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线速打流测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
申请号:CN202411681461
申请日期:2024-11-22
公开号:CN119484334B
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种线速打流测试方法、装置、电子设备及可读存储介质,涉及通信技术领域。该方法应用于与测试设备通信连接的被测设备,该方法包括:获得目标频偏调整量;根据目标频偏调整量对被测设备的基于本地的第一时钟得到的第一初始参考时钟的频偏情况进行调整,以得到第一参考时钟,第一参考时钟的频偏范围的最小值不小于测试设备的第二频偏范围的最大值;基于第一参考时钟进行线速打流测试。如此,通过基于目标频偏调整量对被测设备的参考时钟的频偏范围进行调整,以使得被测设备的频偏范围的最小值不小于测试设备的频偏范围的最大值,从而避免由于被测设备的时钟频偏小于测试设备的时钟频偏导致的线速打流丢包的情况。
技术关键词
时钟 测试设备 测试方法 测试模块 数控振荡器 电子设备 处理器 芯片 可读存储介质 存储器 信号 指令
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