一种量产测试高速接口芯片性能的装置及方法

本发明提供一种量产测试高速接口芯片性能的装置及方法，属于芯片量产测试技术领域。包含测试机和测试板，所述测试板上设计有衰减环回链路，所述衰减环回链路有预定的衰减值，所述测试机提供测试功能和测试资源，所述芯片通过socket固定到所述测试板上，所述芯片输出的上行和下行分别多路发送端和接收端与所述衰减环回链路连接，所述测试机与所述测试板通过JTAG接口连接。同时，通过包括上电、配置、正确码流测试、注错测试和结果判断一系列的操作流程，对芯片的SERDES性能进行全面的测试，以确保芯片的质量和性能符合要求。