一种软件缺陷分析方法、装置、设备和存储介质

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正文
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一种软件缺陷分析方法、装置、设备和存储介质
申请号:CN202411686817
申请日期:2024-11-22
公开号:CN119357034A
公开日期:2025-01-24
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开了一种软件缺陷分析方法、装置、设备和存储介质。该方法包括:获取目标软件在测试过程中产生的多个目标软件缺陷和每个目标软件缺陷的缺陷描述信息;根据多个影响类型的影响描述信息和每个目标软件缺陷的缺陷描述信息,确定每个目标软件缺陷对应的目标影响类型,其中,不同的影响类型用于表征软件缺陷导致的不同影响维度;根据各个目标软件缺陷对应的目标影响类型进行缺陷影响分析,确定目标软件对应的开发优化信息,以基于开发优化信息对目标软件进行后续开发优化。通过本发明实施例的技术方案,可以对软件缺陷进行影响分类和影响分析,从而优化软件开发,减少软件缺陷的产生。
技术关键词
分析方法 软件缺陷分析 信息展示方式 处理器 电子设备 运维 语义 可读存储介质 程序 模块 磁盘 页面 内存 存储器 计算机 场景 入口
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