基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质

AITNT
正文
推荐专利
基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质
申请号:CN202411688634
申请日期:2024-11-25
公开号:CN119203909B
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质,该方法通过获取版图,确定目标区域,获取所述目标区域中的多个绕线任务,所述绕线任务包括待进行绕线连接的测试结构的引脚和对应的焊盘;在所述目标区域中,计算各个所述绕线任务的最短路径;基于预设的布线信息和所述最短路径依次对各个所述绕线任务进行绕线路径生成,直至完成所有绕线任务,解决了由于位线/字线连接方式的绕线随意性大,而引发的测试结构测量误差较大的问题,实现了基于最短路径,依次优化绕线路径,不仅提高了绕线路径的计算效率,也提高了绕线路径的可靠性。
技术关键词
绕线方法 网格 绕线电阻 测试结构 布线 绕线装置 电阻值 拉格朗日乘子法 基准 版图 金属走线 焊盘 测量误差 算法 可读存储介质 定义 位线 通孔
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号