一种CIS芯片测试图像采集和光源同步控制方法及系统

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一种CIS芯片测试图像采集和光源同步控制方法及系统
申请号:CN202411691508
申请日期:2024-11-25
公开号:CN119758047A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种CIS芯片测试图像采集和光源同步控制方法及系统,应用于包括测试机、CIS控制端、芯片和光源的系统中,CIS控制端通信连接测试机;包括:通过CIS控制端向测试机发送预设的同步协议;通过测试机对同步协议解析,并根据解析后的同步协议生成同步控制Pattern指令;通过测试机分别向芯片和光源发送同步控制Pattern指令,以使收到同步控制Pattern指令的芯片和光源两者分别基于同步控制Pattern指令同步触发,以实现芯片和光源同频同源。本发明通过根据获取的同步协议生成同步控制Pattern指令,使得光源和芯片根据同步控制Pattern指令同步触发,以实现芯片和光源同频同源;为芯片的性能评估与图像处理能力的测试提供了坚实可靠的实验基础,提升了测试的精确性与可靠性。
技术关键词
同步协议 光源控制器 测试机 采集设备 图像采集参数 CIS芯片 同步控制方法 指令 同步控制系统 照明 分辨率 图像处理 时序 亮度 速率 模块
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