故障测试方法、装置、电子设备以及存储介质

本申请关于一种故障测试方法、装置、电子设备以及存储介质。该方法可以包括：获取目标电子控制单元对应的配置信息以及对应的多个故障注入方式；根据配置信息，模拟目标电子控制单元的数据空间布局，得到目标电子控制单元对应的虚拟数据布局单元；根据多个故障注入方式中的至少一种故障注入方式，生成目标故障数据；将目标故障数据注入至虚拟数据布局单元，得到故障注入文件；将故障注入文件配置到目标电子控制单元，并对目标电子控制单元进行故障检测处理。根据本申请提供的技术方案，可以提高故障检测效率，同时避免目标电子控制单元的数据受到损坏，提高故障测试的准确性和稳定性。