自动化测试I2c外设的方法和装置

本发明涉及自动化测试I2c外设的方法和装置，采用上述测试方法可以在极短的时间周期内测试完所有I2c外设的功能和故障点的测试，能够大大节省芯片测试验证阶段的时间，缩短芯片研发周期，还可以通过这种方式进行压力测试，以此来测量该I2c外设模块在极限情况下的运行情况，测试其抗压性和鲁棒性。此外，相比于传统测试方式而言使用更简单，不同型号的芯片之间移植也简单，进行芯片中的I2c外设测试时能够大大缩短测试时间、接收人力以及物理成本开支。