一种基于开通过程栅极电压信号的IGBT缺陷检测方法及装置

本发明提供一种基于开通过程栅极电压信号的IGBT缺陷检测方法及装置，包括：基于IGBT开通过程栅极电压信号，获取IGBT实际工作时目标阶段电压波形；根据所述IGBT实际工作时目标阶段电压波形，计算得到IGBT实际工作时目标阶段栅极回路放电时间；根据所述IGBT实际工作时目标阶段栅极回路放电时间，分析判断待测IGBT是否存在栅射极回路缺陷。本发明通过IGBT开通过程栅极电压波形分析栅极回路放电时间的变化，进而判断IGBT是否发生了栅射极回路缺陷，提高了检测效率。在IGBT存在栅射极回路缺陷时，采用本发明的技术方案还可以知道IGBT具体存在栅射极回路缺陷的封装芯片数量，可以实现定量检测。