基于点云的设备尺寸测量方法、计算机设备及存储介质

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基于点云的设备尺寸测量方法、计算机设备及存储介质
申请号:CN202411696037
申请日期:2024-11-25
公开号:CN119832051A
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本申请涉及设备测量技术领域,尤其涉及一种基于点云的设备尺寸测量方法、计算机设备及存储介质。本申请通过识别并删除离群数据点,有效减少了噪声和冗余信息,提高了数据质量。对删除离群数据点后的目标点云数据进行降采样处理,减少了数据点的数量,降低了后续处理的计算复杂度,提升了整体处理效率。对降采样后的点云数据进行配准处理,将不同视角或不同时间采集的点云数据统一到同一个坐标系下,增强了数据的一致性和可比性,为后续的特征提取和尺寸计算提供了准确的基准。对配准后的点云数据进行分割,并基于分割后的点云数据提取关键特征点,最后基于提取的关键特征点实现了对设备几何形态的精细化测量。
技术关键词
尺寸测量方法 激光点云数据 关键特征点 待测设备 计算机设备 误差函数 特征值 协方差矩阵 多角度 可读存储介质 网格 处理器 点分配 邻域 三维模型 种子
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