一种用于芯片半导体测试用芯片插座

本发明公开了一种用于芯片半导体测试用芯片插座，涉及芯片测试技术领域。该用于芯片半导体测试用芯片插座，包括测试插座，所述测试插座上转动连接有盖板，测试插座上开设有测试槽，测试槽的内部设置有测试连接点；盖板上开设有伸缩槽，伸缩槽的内部滑动连接有固定块，固定块的一侧上固定安装有防护垫。该用于芯片半导体测试用芯片插座，由于限位槽内部为倾斜面，因此随着限位槽倾斜面的变化，而使得固定块进行滑动，进而使得固定块抵触在待测试半导体芯片的表面上，因此完成对芯片的固定，使得芯片在测试过程中更加稳定，不易产生晃动现象，避免芯片与测试点失去连接，因此确保测试结果的准确性。