一种基于K-means算法的电缆绝缘老化评估方法

本发明涉及一种基于K‑means算法的电缆绝缘老化评估方法，该方法包括制备不同热老化状态下的切片试样，利用超低频介损检测仪(iFDS)对老化切片试样进行快速超低频介损测试，获得各频率下的老化切片介电常数。计算各种老化状态下的分层对比度，利用K‑means聚类算法确定不同老化程度对应的分层对比度范围。利用超低频介损检测仪(iFDS)对预测电缆进行快速超低频介损测试，计算分层对比度，根据对应的分层对比度范围确定待测电缆的老化程度。