一种基于显存测试结果的DDR参考电压自动调整方法

本发明提供一种基于显存测试结果的DDR参考电压自动调整方法，包括：DDR系统初始化；对DDR系统进行显存测试，显存测试通过，无需调整；显存测试不通过，若是RX方向的操作出错，则调整DRAM侧的输出驱动阻抗ODI；若是TX方向的操作出错，若向DRAM侧中写入0，被判断为1，则调高参考电压Vref；若向DRAM中写入1，被判断为0，则调低参考电压Vref。本发明根据显存测试的结果自动调整DDRVref，为Vref的调整提供可靠的理论依据，可缩短存储系统及芯片的调试周期，同时提升DDR数据的可靠性，提高系统整体的稳定性，只需选择一个存储系统的最高频率进行调试，无需逐个频率调试。