环栅场效应晶体管及其制备方法、芯片和电子设备

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环栅场效应晶体管及其制备方法、芯片和电子设备
申请号:CN202411704438
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119545838B
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本公开涉及半导体技术领域,具体涉及公开了一种环栅场效应晶体管及其制备方法、芯片和电子设备,该制备方法包括:在衬底上垂直生长出垂直纳米线;在所述垂直纳米线生长至预定高度后,改变纳米线生长方向,横向生长出源极、沟道和漏极;沉积一层包围所述垂直纳米线、源极、沟道和漏极的栅极介质材料,并刻蚀得到栅极介质层,所述栅极介质层包围所述沟道。该技术方案可以降低制造难度和生产成本,主要用于制备环栅场效应晶体管。
技术关键词
环栅场效应晶体管 纳米线 栅极介质层 沟道材料 外延技术 衬底 互连线 导电 电子设备 元素 通孔 刻蚀工艺 芯片
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