光模块芯片自动测试设备

本申请公开的属于芯片测试技术领域，具体为光模块芯片自动测试设备，包括工作台，所述工作台上连接有用于输送料盘的送料部、用于抓取料盘中工件的定位抓取部、用于对工件位置纠偏的相机二、用于对工件测试位置调节的测试对位组件、用于对工件进行测试的测试组件、用于对工件翻面的翻转组件；可以实现对光模块芯片光功率的自动化测试，可以连续不断地进行测试，无需人工干预，减少对高技能操作人员的依赖，降低人力成本，减少了因人为错误导致的废品率，大大提高了测试速度和效率，提供了高度精确和一致的测试结果，有助于保证每个光模块芯片的性能都达到预定标准，提高最终产品的质量和可靠性。