一种基于环带重构微分的多阶衍射透镜制造误差分析方法

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正文
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一种基于环带重构微分的多阶衍射透镜制造误差分析方法
申请号:CN202411704958
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119916515A
公开日期:2025-05-02
类型:发明专利
摘要
本发明属于多阶衍射透镜加工领域,具体涉及一种基于环带重构微分的多阶衍射透镜制造误差分析方法。方法包括:首先针对MDL存在加工导致的形貌误差类型,构建误差函数ε;之后基于所构建的误差函数ε,得到MDL误差高度分布矩阵hij;然后计算MDL在焦平面位置的衍射光场;最后计算MDL在误差影响下的光学性能指标,包含相对焦点位置偏移及相对聚焦效率损失。本发明能够有效针对MDL制造过程中形成的复杂形貌误差进行光学性能相关的分析;能够通过理论计算与仿真模拟的方式对MDL在制造误差影响下光学性能损失的变化趋势及区间进行准确分析;对MDL在任意误差形貌下的光学性能分析工作具有高适用性及准确性;本发明便于改进工艺,实用性强。
技术关键词
误差分析方法 衍射透镜 误差函数 重构 非线性回归模型 凹陷台阶 误差信息 焦点 矩阵 计算误差 光强 定义 功率 索引 波长 因子 理论 坐标
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