一种异常检测方法、装置、电子设备、芯片及介质

本公开提供一种异常检测方法、装置、电子设备、芯片及介质，涉及异常检测技术领域。该异常检测方法包括：获取待检测图像集合；利用孪生自编码器网络的编码器和高维映射，从待检测图像集合提取高维特征，并将高维特征聚类为第一聚类中心和第二聚类中心；根据正常聚类中心与第一聚类中心和第二聚类中心的距离，确定正常簇中心和异常簇中心，其中，正常聚类中心通过孪生自编码器网络处理后的正常图像数据聚类生成；基于正常簇中心和异常簇中心，从待检测图像集合中确定异常图像。通过本公开提供的技术方案，解决了异常检测中噪声干扰大、准确率低的问题，提高了异常检测准确率，减少了噪声干扰。