一种OLED封装区域膜层厚度偏移量测量方法及系统

本发明提供一种OLED封装区域膜层厚度偏移量测量方法及系统，涉及OLED封装检测技术领域，所述方法流程为：获取OLED封装区域的膜层线宽区域图像；对膜层线宽区域图像进行虚拟标尺提取处理，以得到虚拟标尺的零刻度线；对膜层线宽区域图像进行膜层分割线提取处理，以得到不同膜层的分界线；基于零刻度和分界线对不同膜层进行厚度偏移量计算，以得到膜层厚度偏移量。本发明首先获得虚拟标尺的零刻度线和不同膜层的分界线，然后获取虚拟标尺的零刻度线和不同膜层的分界线的距离，并且通过零刻度线和分界线的距离来衡量OLED封装区域膜层厚度偏移量，能够实现膜层厚度偏移量的自动测量，解决了OLED封装区域的膜层厚度偏移测量效率低、误差大的问题。